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LED-Messtechnik: MKS stellt Ophir FluxGage FG1500 vor

Großformatige LED-Leuchten komplett vermessen

LED-Messtechnik: MKS stellt Ophir FluxGage FG1500 vor

Ophir FluxGage FG1500 misst die Lichtqualität assemblierter, großformatiger LED-Leuchten. (Bildquelle: @MKS Ophir)

Mit dem neuen Ophir FluxGage FG1500 lässt sich die Lichtqualität assemblierter, großformatiger LED-Leuchten bis zu einer Größe von 144 auf 64 cm einfach vermessen. Das photometrische Messsystem von MKS Instruments misst den Gesamt-Lichtstrom, verschiedene Farbparameter und das Flimmern selbst bei großen LED-Paneelen, Straßenlampen oder industriellen Leuchten zuverlässig und schnell. Seine internationale Premiere feiert FluxGage FG1500 auf dem LED professional Symposium LpS 2018 vom 25.-27. September 2018 in Bregenz.

Das praktische photometrische Messgerät mit Messkavität in 2Pi-Geometrie ermöglicht die präzise Kontrolle der Lichtqualität am Ende der Fertigungslinie. Gleichzeitig kann man den Entwicklungsprozess beschleunigen, da die vollständigen LED-Leuchten sehr schnell getestet werden können. Im Rahmen von Wareneingangsprüfungen neuer Leuchten oder Austauschleuchten lassen sich die Module hinsichtlich ihrer Konsistenz sortieren.

„Ophir FluxGage liefert einen revolutionären Ansatz bei der Lichtmessung von LED-Leuchten im Rahmen der Qualitätsprüfung und vereinfacht auch die Leuchtenentwicklung signifikant“, erklärt Dr. Simon Rankel, Business Development Manager LED bei Ophir Photonics. „Bisher war es undenkbar, das Licht jeder gefertigten großformatigen Leuchte so kostengünstig und schnell zu prüfen. Mit dem neuen Ophir FluxGage FG1500 lässt sich beispielsweise der Gesamt-Lichtstrom einer 120 x 60 cm Einbauleuchte in wenigen Sekunden ermitteln.“

Ophir FluxGage nutzt Solarmodule an den Innenseiten des Gehäuses zur Messung des Lichts. Die Detektorfläche ist mit einer Diffusorfolie bedeckt, die eine Messung unabhängig vom Einfallswinkel ermöglicht sowie einer schwarzen, aufgedruckten Beschichtung mit feinen Öffnungen. Durch dieses Design wird die Reflektion der Solarmodule deutlich reduziert. Das gesamte photometrische Messgerät muss nur unwesentlich größer sein als die zu messende Leuchte. Mittels eines integrierten Spektrometers lassen sich mit Ophir FluxGage die Farbparameter, CCT (correlated color temperature), CRI (color rendering index), TM-30-15 (fidelity and gamut index), Duv und der Farbwert bestimmen. Zusätzlich verfügt das Ophir FluxGage-System über einen schnellen Photosensor zur Messung von Flimmer und Lichtintensität.

Eine integrierte Software vereinfacht Inbetriebnahme und Nutzung des photometrischen Messgeräts. Alle optischen Daten der Leuchte werden übersichtlich auf dem Bildschirm dargestellt. Ophir FluxGage FG1500 wird direkt über eine USB-Schnittstelle mit dem PC verbunden. Eine kalibrierte, NIST-rückführbare LED-Quelle wird zur Kalibration des Systems im Feld verwendet. Spezifikationen zum Ophir FluxGage FG 1500 erhalten Sie hier: https://www.ophiropt.com/led/wp-content/uploads/2016/06/FluxGage-spec.pdf

Über Ophir Spiricon Europe GmbH:
Ophir, eine Marke der MKS Instruments, Inc., bietet eine breite Palette an Messtechnik, darunter Leistungs- sowie Energiesensoren und Strahlprofilmessgeräte und entwickelt kontinuierlich innovative Produkte zur Messung von Lasern und LED-Leuchten. Die modularen, individuell anpassbaren Lösungen werden rund um die Welt in Fertigung, Medizintechnik, im militärischen Bereich und der Forschung eingesetzt. Weitere Informationen finden Sie unter http://www.ophiropt.de

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MKS erweitert Ophir NanoScan Strahlprofilmessgerät-Serie

Neuer pyroelektrischer Messkopf für die schlitzbasierte Strahlprofilmessung im mittleren Infrarotbereich, erweiterter Messbereich für Silizium-Messköpfe

MKS erweitert Ophir NanoScan Strahlprofilmessgerät-Serie

MKS erweitert Ophir NanoScan Strahlprofilmessgerät-Serie (Bildquelle: @MKS Ophir)

MKS Instruments stellt gleich mehrere Neuerungen für die schlitzbasierten Profilmessgeräte der Ophir NanoScan Serie vor. So vergrößert sich der Messbereich der Ophir NanoScan Modelle mit Silizium-Messkopf auf Wellenlängen bis 1100nm. Die Messung von durchstimmbaren Lasern wird damit für Anwender deutlich einfacher und günstiger. Mit dem neuen NanoScan MIR ergänzt der Messtechnikspezialist sein Portfolio um ein schlitzbasiertes NanoScan Modell mit pyroelektrischem Messkopf für die Anwendung im mittleren Infrarotbereich. Das Profilmessgerät eignet sich für Wellenlängen von 900nm bis fünf Mikrometer. Als Highlight bietet Ophir seinen Kunden die Möglichkeit, noch bis Ende des Jahres die passende NanoScan Software in der Professional Version mit integrierter Automatisierungs-Schnittstelle ohne Aufschlag zur NanoScan Standard Software herunterzuladen.

Die schlitzbasierten Strahlprofilmessgeräte der NanoScan Serie eignen sich insbesondere für die Messung kleiner Strahldurchmesser und werden häufig von Herstellern von Laserstrahlquellen u.a. für die Medizintechnik eingesetzt. Alle Modellvarianten überzeugen durch schnelle und sehr präzise Messungen. „Mit unseren Neuerungen bei der NanoScan Familie bieten wir den Anwendern eine günstig Alternative zur Strahlvermessung im NIR- bis MIR-Bereich sowie generell beim automatisierten Messbetrieb von kleinen Strahldurchmessern bis zu sieben Mikrometer“, erklärt Christian Dini, Director Global Business Development Ophir. Die Ophir NanoScan Messgeräte sind mit Silizium-, Germanium- und pyroelektrischen Messköpfen erhältlich und decken damit einen weiten Bereich an Wellenlängen und Laserleistungen ab. Die passende Software errechnet ISO-konform zahlreiche Strahlparameter, beinhaltet einen M2-Assistenten und ermöglicht die Messung der Laserleistung.

Weitere Informationen finden Sie unter http://www.ophiropt.com/laser–measurement/de/beam-profilers/products/Scanning-Slit-Beam-Profiling-with-NanoScan

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Neue Ophir Kamera zur Strahlprofilmessung von MKS

Schnell und flexibel dank GigE-Schnittstelle

Neue Ophir Kamera zur Strahlprofilmessung von MKS

Schnell und flexibel: Ophir Spiricon SP920G mit GigE-Schnittstelle (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH)

Die neue Ophir Spiricon SP920G Kamera von MKS Instruments vereint die Vorzüge einer hochauflösenden CCD-Kamera mit ausgezeichnetem Signal-Rausch-Verhältnis, mit der Flexibilität und Schnelligkeit eines GigE Ethernet-Anschlusses. Dadurch kann die Kamera, die in einem robusten und kompakten Gehäuse verbaut ist, auch in größerer Entfernung vom PC betrieben werden. Laserstrahlen lassen sich somit auch in Umgebungen messen, die aus Sicherheits- oder räumlichen Gründen beispielsweise mit einem USB-Anschluss nicht erreicht werden könnten. Darüber hinaus werden OEM-Anwendungen im Maschinen- und Anlagenbau deutlich vereinfacht. Die SP920G Kamera wurde erstmals auf der LASYS in Stuttgart vorgestellt.

Die Ophir SP920G Kamera nutzt die BeamGage Software zur Auswertung der Messungen. In der Regel befindet sich dazu ein PC oder Laptop in der Nähe des Sensors, der über eine USB-Schnittstelle angesprochen wird. Die jetzt integrierte GigE-Schnittstelle erweitert den Einsatz-Radius der Kamera auf bis zu 100 Meter. Anwender in Forschung und Entwicklung profitieren davon ebenso wie Anlagenbauer, die die Kamera teils in sehr großen Laseranlagen als OEM-Produkt integrieren.

Die SP920G misst Wellenlängen zwischen 190 und 1100nm und eignet sich für Strahldurchmesser von 44 Mikrometer bis 5,3mm. Sowohl gleichförmige als auch gepulste Strahlen lassen sich mit der Silizium-Kamera messen. Weitere Informationen finden Sie unter http://www.ophiropt.com/laser–measurement/de/beam-profilers/products/Beam-Profiling/Camera-Profiling-with-BeamGage

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Fluoreszenzmikroskopie: Neuer Ophir PD300-MS Power Meter

Leistungsmessgerät für NA Mikroskop-Objektive

Fluoreszenzmikroskopie: Neuer Ophir PD300-MS Power Meter

Ophir PD300-MS Power Meter zur Messung von NA Mikroskop-Objektiven (Bildquelle: @Ophir)

MKS Instruments stellt das neue Leistungsmessgerät Ophir PD300-MS zur präzisen Messung von emittiertem Licht bei der Fluoreszenzmikroskopie vor. Der Sensor misst die Leistungsstufen von Objektiven mit hoher numerischer Apertur (NA) im Bereich von 5 Mikrowatt bis 1W. Ein spezieller Filter sorgt für eine geringe Winkelabhängigkeit und ermöglicht damit sehr präzise Messergebnisse. Die NIST-rückführbare Kalibration gilt für Wellenlängen von 350 bis 1100 nm. Das Leistungsmessgerät arbeitet mit einer Vielzahl an Lichtquellen in Anwendungen wie der Photoaktivierung oder der Photobleichung. Um den beschränkten Platz optimal zu nutzen, hat der Sensor die gleichen Abmessungen wie ein Standard-Objektträger. Das PD300-MS kann sowohl auf der Probenebene, umgeben von Luft, oder zusammen mit Wasser-/Öl-Immersionsobjektiven verwendet werden.

„Die Leistung exakt zu dosieren, ist entscheidend für die Wiederholbarkeit von Experimenten mit Fluoreszenzmikroskopen; in der Praxis ändert sich die Ausgangsleistung der Lichtquellen jedoch mit der Zeit beziehungsweise unterscheiden sich die Aufbauten unterschiedlicher Mikroskope“, erläutert Christian Dini, Director Global Business Development bei Ophir. „Nutzt man den präzise kalibrierten Leistungssensor PD-300-MS, kann exakt die spezifizierte Lichtmenge eingestellt werden und das unabhängig von der Lichtquelle oder den optischen Details des Mikroskops.“

Das Ophir PD-300 ist kompatibel zu allen Anzeigegeräten und PC-Schnittstellen von Ophir. Darunter auch zu dem neuesten tragbaren Anzeigegerät, dem Centauri, mit großem, graphischem Display und erweiterten mathematischen Funktionen. Das Ophir PD300-MS ist sofort verfügbar. Weitere Informationen dazu finden Sie auf www.ophiropt.com oder direkt unter http://ow.ly/PVDP30k6uuV

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MKS präsentiert auf der LASYS Ophir Centauri

Tragbares, kompaktes Messgerät zur Messung von Lasersleistung und -energie mit großem Touchscreen

MKS präsentiert auf der LASYS Ophir Centauri

Ophir Centauri zeichnet sich durch seinen großen Touchscreen in Vollfarbe aus. (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH)

Ophir Centauri, ein neues, tragbares Messgerät zur präzisen Messung von Laserleistung und -energie, feiert auf der LASYS in Stuttgart Europa-Premiere. Das neue Messgerät von MKS Instruments zeichnet sich durch einen großen 17,8 cm Touchscreen in Vollfarbe zur übersichtlichen Anzeige aller Messergebnisse aus. Es bietet eine breite Palette an grafischen Darstellungen, darunter digitale Anzeige mit Balkendiagramm, Liniendiagramme sowie statistische Auswertungen in Echtzeit. Fortgeschrittene mathematische Funktionen schließen die Berechnung der Leistungsdichte, des Skalierungsfaktors und der Normalen im Vergleich zur Grundlinie ein. Centauri ist als Ein- und Zweikanalversion erhältlich und kompatibel mit allen gängigen thermischen, Photodioden und pyroelektrischen Sensoren – auch den preisgekrönten BeamTrack Leistungs-/Positions-/Größensensoren.

„In der Regel besitzen kompakte Messgeräte nur kleine Displays“, erklärt Christian Dini, Director Global Business Development Ophir, und führt aus: „Centauri hingegen bietet ein schlankes, modernes Design und gleichzeitig ein großes Display. Die Messergebnisse lassen sich leicht ablesen und bei Bedarf kann das Gerät einfach an unterschiedlichen Laserarbeitsplätzen angewendet werden. Kombiniert mit anspruchsvollen grafischen Darstellungs- und Auswertungsoptionen bietet Ophir Centauri also die komplette Funktionalität eines high-end Standgeräts und ist dennoch kompakt und tragbar.“

Die grafischen Funktionen von Ophir Centauri umfassen die digitale Darstellung mit einem Balkendiagramm, eine simulierte Analoganzeige mit Nadel, Liniendiagramm, Puls-Chart, Gut/Schlecht, Position, Stabilität und Echtzeit-Statistiken. Die Zweikanal-Option unterstützt die geteilte und zusammengefasste grafische Darstellung. Im Rahmen der Aufzeichnung von Leistung und Energie lassen sich alle Punkte bei bis zu 10kHz protokollieren. Die mathematischen Funktionen des Ophir Centauri können kombiniert und die Ergebnisse in einer Darstellung ausgegeben und aufgezeichnet werden.

Als Schnittstellen stehen USB und RS232 für die Integration in größere Systeme zur Verfügung, USB-Sticks können zur nahezu unbegrenzten Datenspeicherung verwendet werden. Ein TTL-Ausgang kann zusammen mit der Gut/Schlecht-Auswertung genutzt werden, um den Anwender direkt zu informieren, sobald die Messungen außerhalb der Spezifikation liegen. Centauri ist sofort verfügbar, OEM-Preise können gerne angefragt werden.

Weitere Informationen finden Sie unter http://www.ophiropt.com/laser–measurement/laser-power-energy-meters/products/laser-power-meters/centauri

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Laser messen: MKS stellt Ophir Focal Spot Analyzer vor

Mit dem Ophir Focal Spot Analyzer lassen sich Laserparameter in der Materialbearbeitung gezielt überwachen

Laser messen: MKS stellt Ophir Focal Spot Analyzer vor

Ophir Focal Spot Analyzer überwacht Laserparameter in der Materialbearbeitung (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH)

MKS Instruments präsentiert den Ophir Focal Spot Analyzer. Das Messgerät zur Überwachung des Laserstrahls vermisst den Fokus und die Leistung von Hochleistungs-Lasern in Echtzeit. Der Focal Spot Analyzer misst den Durchmesser des Laserstrahls im Fokus bis hinunter auf 35 Mikrometer und die Laserleistung von kleiner 1 bis 400 Watt bei Wellenlängen zwischen 266 und 1100 nm. Das System wurde für Laseranwendungen entwickelt, die nur eine geringe Arbeitsentfernung aufweisen. Es misst die Leistungsverteilung im Fokus sowie Verschiebungen der Fokuslage und liefert darüber hinaus die Lage und Ausprägung der Laserkaustik. Die Präzision der Messungen zeigt sich auch darin, dass die Entfernung des Kamera-Arrays NIST-rückführbar ist. In Anwendungen wie der Fertigung von medizinischen Produkten oder dem Micro-Schweißen, die einen Brennfleck mit klar abgegrenztem, schmalen und reproduzierbarem Prozessfenster für das Intensitätsprofil benötigen, ist dies wichtig.

„Den Laserstrahl auf einen sehr kleinen Fleck zu fokussieren, verursacht eine höhere Strahlintensität und eine gesteigerte optische Effizienz“ erklärt Gary Wagner, General Manager von Ophir Photonics in den USA. „Gerade in der Fertigung medizinischer Produkte, bei denen der Laserstrahl auf eine Fokusgröße von nur wenigen tausendstel Zentimeter im Durchmesser fokussiert wird, gilt es das zu berücksichtigen. Dank des Focal Spot Analyzers weiß der Anwender genau, wo der Brennfleck gemessen wird und wie die 2D-Verteilung auf dieser Messebene aussieht – unabhängig davon, ob es sich um den Fokus handelt oder nicht.“

Der Focal Spot Analyzer beinhaltet eine hochauflösende Kamera – entweder die SP928 CCD Strahlprofil-Kamera oder die großformatige LT665 Kamera, einen LBS-300 Strahlabschwächer mit zwei Strahlteilern für die Polarisations-neutrale Abschwächung, die BeamGage Strahlprofil Software und ein Kalibrierzertifikat. Der LBS-300 Strahlabschwächer ermöglicht es den Anwendern, die Ausgangsleistung des Laserstrahls abzuschwächen, der die Kamera reicht. Es werden jeweils über 99 % des Strahls pro Abschwächer transmittiert, während 0,01% zur Kamera weitergeleitet werden. Der Strahlteiler selbst beeinflusst die Polarisation nicht, sondern behält die Polarisationskomponenten des ursprünglichen Strahls bei.

Weitere Informationen finden Sie unter http://www.ophiropt.com/laser–measurement/de/beam-profilers/products/Measure-Focus-Spot/Focal-Spot-Analyzer?r=drp

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Additive Fertigung: MKS Ophir präsentiert BeamWatch AM

Erstes berührungsloses Laserstrahlmessgerät für die Additive Fertigung gewährleistet Reproduzierbarkeit und Qualität

Additive Fertigung: MKS Ophir präsentiert BeamWatch AM

BeamWatch AM ermittelt wesentliche Charakteristiken des Laserstrahls in der Additiven Fertigung (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH)

Leicht, kompakt und gezielt entwickelt für die Anforderungen der Additiven Fertigung: Mit BeamWatch AM stellt MKS Ophir das erste berührungslos arbeitende Laserstrahlmessgerät für die Additive Fertigung vor. Es zeichnet sich dadurch aus, dass selbst die Fokusshift des Lasers in Echtzeit gemessen werden kann. Darüber hinaus liefert BeamWatch AM zahlreiche Strahlparameter wie Strahlgröße und -position sowie Fokusgröße und die Strahlkaustik. Diese Messungen ermöglichen es den Anwendern, einfach und schnell festzustellen, wann der Strahl korrekt ausgerichtet und fokussiert ist und gewährleisten so die Qualität der gefertigten Teile. Die Messungen können sowohl tabellarisch als auch in 2D- oder 3D-Ansichten dargestellt werden und zeigen schnell und realistisch sämtliche Charakteristiken des Laserstrahls auf der Bearbeitungsebene.

„In der Additiven Fertigung muss jede Schicht in ihren Materialeigenschaften identisch sein, um die Gesamtqualität des produzierten Teils zu gewährleisten. Dies gelingt nur, wenn der Fokus des Lasers jederzeit den vordefinierten Spezifikationen entspricht. Mit BeamWatch AM lässt sich dies auf der Bearbeitungsebene berührungslos prüfen“, erklärt Christian Dini, Director Global Business Development MKS Ophir.

BeamWatch AM stellt die nächste Generation der von Ophir entwickelten Laserstrahlmessgeräte dar: Sie alle nutzen alleine die Rayleigh-Streuung, um den Strahl darzustellen. Der Laserstrahl wird dadurch nicht beeinflusst, so dass einerseits keine Gefahr besteht, dass das Messgerät selbst beschädigt wird. Andererseits kann deutlich schneller gemessen werden, da bis zu 2048 Strahlprofile nahezu zeitgleich und in Bruchteilen einer Sekunde ermittelt werden. BeamWatch AM kann Laser mit einer Leistung von 1000 Watt bei bis zu 14 Hz messen und bis zu 120.000 Joule Energie ohne Kühlung aufnehmen. Das System für die Additive Fertigung misst auch Laserleistung, Strahltaille und -lokation, Fokuslage, Strahldurchmesser im Fokus sowie Fokusgröße auf jedem Punkt entlang des 10 mm Messbereichs, Elliptizität, Rayleigh-Länge, M2, K, Strahlparameterprodukt, Divergenz und Strahlneigung im Mittelpunkt. Die Ergebnisse können in kommaseparierte (.csv) Dateien geschrieben werden, um sie in Excel oder andere Analysetools zu importieren. BeamWatch AM ist sofort verfügbar. Weitere Informationen finden Sie auf der Ophir Webseite http://www.ophiropt.com/laser–measurement/de/beam-profilers/products/High-Power-Beam-Profiling/BeamWatch-AM?r=drp

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High Power und Additive Manufacturing im Fokus von MKS Ophir

High Power und Additive Manufacturing im Fokus von MKS Ophir

Nicolas Meunier verstärkt das Business Development Team bei MKS Ophir (Bildquelle: MKS Ophir)

MKS Ophir verstärkt sein Engagement in der industriellen Messtechnik sowohl für Hochleistungslaser als auch für Lasersysteme der Additiven Fertigung: Nicolas Meunier verantwortet zukünftig als Business Development Manager die beiden Wachstumsbranchen weltweit. Der erfahrene Ingenieur begleitet die Entwicklung neuer Messtechnik in diesen Bereichen, führt diese gemeinsam mit den regionalen Vertriebsteams im Markt ein und liefert Ideen für zukünftige Lösungen in der Messtechnik für Laser.

Nicolas Meunier verfügt über mehr als 14 Jahre Erfahrung im Vertrieb und Produktmanagement. Nach seinem Studium in Frankreich und den USA arbeitete er für führende Unternehmen der Automobilindustrie sowie in der Messtechnikbranche. Im Anschluss an seine Tätigkeit als Key Account Manager bei Valeo und Autoliv führte ihn sein beruflicher Weg in die optische Messtechnik. Für die Prüftechnik AG verantwortete er als Gebietsverkaufsleiter unterschiedliche Märkte weltweit, baute vor Ort den nordamerikanischen Servicemarkt des Unternehmens aus und übernahm schließlich das Produktmanagement für geometrische Laserjustage-Systeme.

Christian Dini, Director Global Business Development MKS Ophir, sieht darin die optimalen Voraussetzungen: „Wir haben mit BeamWatch eine völlig neuartige Messtechnologie entwickelt, die den Laserstrahl berührungslos in Echtzeit analysiert. Nicolas Meunier gelingt es, sowohl die Technologie zu erklären als auch die richtigen Strategien zu entwickeln, um die Produkte in den Markt zu bringen.“

Weitere Informationen erhalten Sie unter www.ophiropt.de

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NIST-rueckfuehrbarer LED Kalibrierstandard: MKS stellt Ophir FGC100 vor

NIST-rueckfuehrbarer LED Kalibrierstandard: MKS stellt Ophir FGC100 vor

LED Kalibrierstandard Ophir FGC100 (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH)

MKS Instruments Inc. stellt mit dem Ophir FGC100 einen NIST-rückführbaren LED Kalibrierstandard für das Ophir FluxGage System vor. FluxGage ist ein kompaktes photometrisches Testsystem für LED-Leuchtmittel, das entscheidende Qualitätsparameter wie Lichtstrom, Farbparameter und Flimmern in einem Gerät misst. Es ersetzt in der Entwicklung, in der Produktion und in der Wareneingangskontrolle große, unhandliche Ulbrichtkugeln. LED-Leuchten und -Module lassen sich damit schnell prüfen und nach Konsistenz sortieren.

FGC100 ist eine strom- und temperaturstabilisierte LED-Quelle, die den spektralen Gesamt-Strahlungsfluss von 390 bis 800 nm kalibriert. Das System besteht aus einer Lampeneinheit und einem Controller. Die Lampeneinheit ist eine nach vorn emittierende Lichtquelle. Eine eigens entwickelte Fixierung an der FluxGage Abdeckung stellt die wiederholbare Montage und Kalibrierung sicher.

„Das FluxGage System misst LED-Leuchten und benötigt aus diesem Grund einen eigenen LED-Kalibrierstandard und nicht den typischen Wolframstandard“, erklärt Dr. Efi Rotem, CTO Ophir Photonics. „Dadurch beseitigen wir Unsicherheiten bei der Kalibrierung. Abweichungen in der spektralen und der Winkelverteilung zwischen dem Wolfram-Standard und den LED-Quellen gibt es damit nicht mehr. Überschüssige Infrarotstrahlung wie sie bei Wolfram-Quellen auftritt wird vermieden und damit gibt es in den Spektrometern kein Streulicht.“ Um die Zuverlässigkeit sicherzustellen, wird das FGC100 bei Ophir mit einer NIST-rückführbaren Quelle kalibriert. Die Daten des spektralen Strahlungsflusses werden über einen USB-Stick geladen. Der FGC100 Controller beinhaltet einen Stundenzähler, der die Gesamtlaufzeit des Geräts anzeigt. Nach 50 Stunden sollte der FGC100 Standard bei Ophir neu kalibriert werden. Weitere Informationen finden Sie unter http://www.ophiropt.com/led/de/

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Robustes Laserstrahlmessgerät: MKS stellt Ophir BeamSquared 2.0 vor

BeamSquared 2.0 mit erweitertem Funktionsumfang: 3D-Darstellung des Strahls, umfangreiches Reporting, Automatisierungsschnittstelle über .NET- Komponenten und anpassbare Messoptionen

Robustes Laserstrahlmessgerät: MKS stellt Ophir BeamSquared 2.0 vor

MKS stellt mit Ophir BeamSquared 2.0 robustes, tragbares Laserstrahlmessgerät für Daueranwendung vor (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH)

MKS Instruments stellt die neueste Version des M2-Lasermessgeräts Ophir BeamSquared 2.0 vor. Das robuste, tragbare System ermittelt noch schneller und präziser, wie effektiv der Laserstrahl fokussierbar ist. In weniger als einer Minute zeigt es die wichtigsten Kennzahlen sowohl von Dauerstrich als auch von gepulsten Lasern und ermöglicht den Anwendern damit, die Performance ihres Laserstrahls zu optimieren. Im automatischen Modus lässt sich BeamSquared von UV bis zum nahen IR-Bereich sowie für Wellenlängen in der Telekommunikation nutzen; in Kombination mit geeigneten Sensoren aus dem Ophir Produktspektrum analysiert die neuentwickelte M2-Software auch Terahertz- und CO2-Laserstrahlen mit einer Wellenlänge größer als 1,8 Mikrometer. BeamSquared 2.0 bietet erweiterte Optionen zur 3D-Darstellung des Strahls sowie umfangreiche Reporting-Funktionen, eine Automatisierungsschnittstelle über .NET- Komponenten und anpassbare Messoptionen.

BeamSquared wurde für den kontinuierlichen Betrieb sowohl in der Forschung als auch in industriellen Anwendungen entwickelt. Es besteht aus einer hochpräzisen CCD- oder InGaAs-Matrixkamera, einem Strahlengang sowie der leistungsfähigen M2-Software. Die Software erfasst die Kenngrößen der Strahlausbreitung sowohl in X- und Y-Richtung, darunter Durchmesser und Lokation der Strahltaille, Winkeldivergenz, Rayleigh-Längen sowie M2 bzw. K-Zahl oder das Strahlparameter-Produkt sowie Astigmatismus und Asymmetrie. Um das Strahlverhalten im Fokus nachzuweisen, lassen sich die Laserstrahlen zwei- oder dreidimensional darstellen. Insbesondere die Kombination aus dem längeren Strahlengang und dem von Ophir patentierten UltraCal Kalibrier-Algorithmus gewährleistet die ISO11146-Konformität und liefert Messergebnisse in höchster Präzision.

BeamSquared 2.0 kann sowohl vertikal als auch horizontal angewendet werden und lässt sich damit platzsparend in die Messumgebung einfügen. Die neue 3D-Funktionalität umfasst eine 3D-Schicht-Darstellung und bietet die Option, die 3D-Darstellungen direkt in Berichten zu integrieren. Darüber hinaus beinhalten die Berichte – zusätzlich zu Setup-Informationen, Messergebnissen und einer Vielzahl an Statistiken – ab sofort optionale Grafiken zur Strahlkaustik. Eine neue Automatisierungsschnittstelle über .NET-Komponenten ermöglicht es, eigene Anwendungen zu entwickeln, die die umfangreichen Optionen zur Strahlanalyse und die Verarbeitungsleistung von BeamSquared nutzen.

BeamSquared ist ein kamerabasiertes Lasermessgerät. Je nach Anwendung wählen die Kunden die passende Kamera:
– Ophir Pyrocam: Die neue M2-Software ermöglicht es, in Kombination mit Ophir Pyrocams CO2-Laser und Terahertz-Strahlung zu analysieren. Die pyroelektrischen Matrixkameras analysieren Wellenlängen von 1,06 bis 3000 Mikrometer und sind in zwei Versionen verfügbar: Als Pyrocam IVs mit einem aktiven Array von 25,6 x 25,6 mm und unter Pyrocam IIIHR als kleinformatige OEM-Version mit einem 12,8 x 12,8 mm Array.
– Ophir SP300 Silizium CCD-Kamera: Sie analysiert Wellenlängen zwischen 190 und 1100 nm. Diese Kamera vereint kompaktes Design mit einem breiten dynamischen Bereich, einem unvergleichlichen Signal-Rausch-Verhältnis und reduzierten Lichthof (Blooming).
– Ophir Xeva XC-130: Die hochauflösende InGaAs-Kamera analysiert Wellenlängen zwischen 900 und 1700 nm. Sie ermöglicht den Betrieb bei Raumtemperatur, bietet einen weiten dynamischen Bereich, eine schnelle Datenerfassungsrate und ein großes Array, das sich optimal für große Strahlen im nahen Infrarot-Bereich sowie zur Messung des Felddurchmessers in der Telekommunikation eignet.

Über Ophir Spiricon Europe GmbH:
Ophir, ein Tochterunternehmen von MKS Instruments, Inc., bietet eine breite Palette an Messtechnik, darunter Leistungs- sowie Energiesensoren und Strahlprofilmessgeräte und entwickelt kontinuierlich innovative Produkte zur Messung von Lasern und LED Leuchten. Die modularen, individuell anpassbaren Lösungen werden rund um die Welt in Fertigung, Medizintechnik, im militärischen Bereich und der Forschung eingesetzt. Weitere Informationen finden Sie unter http://www.ophiropt.de

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